纳米复合RTV和HTV电晕老化特性对比实验研究

• 作者: 周致田 姚刚 文习山 李亚明 胡雕龙
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 硫化硅橡胶 电晕 绝缘特性 红外光谱 特征峰 寿命
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 纳米复合绝缘材料及其应用
• 页码范围: 2831-2841
• 页数: 11页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20170831009

摘要

电晕老化可能导致硅橡胶使用寿命和防污闪效果下降,为了研究硅橡胶材料在电晕作用后的老化特性和使用寿命,选取纳米复合室温硫化硅橡胶(RTV)和高温硫化硅橡胶(HTV)两种材料,在实验室模拟交流电晕老化环境,研究了电晕放电对两种硅橡胶综合性能影响,讨论了电晕放电对RTV和HTV的绝缘特性破坏效应.分析了不同硅橡胶在电晕作用下介损、电阻率、耐热性能的变化规律,结合扫描电镜(SEM)和红外光谱技术对RTV和HTV的老化特征进行了比较研究,寻求了新的参数来评估硅橡胶电老化程度,尝试对硅橡胶电老化寿命进行了定量评估.结果表明,典型特征峰红外光谱吸收峰面积结合聚合物电老化寿命公式可以描述硅橡胶电老化程度,纳米复合RTV的电老化寿命约为普通HTV的1.63～1.84倍.