超低噪声场效应晶体管参数退化失效分析

• 作者: 胡明
• 来源期刊: 舰船电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 超低噪声场效应管 聚焦离子束 能谱分析 环氧密封
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 115-118
• 页数: 4页
• 分类号: TN386
• 字数: 2383字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16426/j.cnki.jcdzdk.2017.02.026

摘要

某型号超低噪声场效应管使用3～5年后,在气候潮热区域和时期会集中出现饱和漏电流、跨导减小的参数退化现象.首先对失效器件进行了电特性测试、热成像分析、聚焦离子束(FIB)分析、能谱分析,通过故障树法排除了过电应力、结温过高、芯片自身缺陷等可能失效原因;其次结合失效场效应管钝化层薄、环氧胶封等工艺特点以及特殊的失效环境,通过推理假设,最终试验验证得出:低噪声场效应管在长时间高温高湿的环境下,水汽穿透场效应管的环氧胶粘合线进入管壳内部,在电场集中的漏极区域水汽发生电化学反应对芯片造成腐蚀,最终引起参数退化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡明		2	6	2.0	2.0