陶瓷封装电路键合引线冲击应力下的短接判定方法

• 作者: 卢礼兵 季振凯 徐彦峰
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 陶瓷封装 键合线 机械冲击 短路
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN305.94
• 字数: 2471字
• 语种: 中文

摘要

高可靠集成电路普遍采用陶瓷封装.但是陶封电路内部的空封结构易导致键合线在受到外界机械冲击后引起相邻键合线短接.因此在设计阶段对键合线的选择、布线布局设计、键合工艺参数优化以及封装后的引线抵抗外界应力的能力显得尤为重要.在高速摄像机摄像和电学判定组合方法的基础上,提出一种改进型的键合线短路判定方法.该方法实时对所有被测CQFP228封装的FPGA电路端口进行判定.试验证明,该方法可以大大提高判定评估准确率,降低判定步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐彦峰		9	21	3.0	4.0
2	卢礼兵		6	17	2.0	3.0
3	季振凯		6	11	2.0	3.0