多元谱线拟合技术在电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍基高温合金GH4720Li中硼的应用

• 作者: 张亮亮 赵娟红 雷亚宁
• 来源期刊: 冶金分析
• 关键词: GH4720Li合金 硼 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 多元谱线拟合技术
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 页码范围: 22-28
• 页数: 7页
• 字数: 4465字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010160

摘要

用盐酸和过氧化氢(或硝酸)溶解样品,采用多元谱线拟合技术(MSF)校正光谱干扰,消除了合金中镍、铬、钴、铝、钛、钨、钼、铁和锰等共存元素对测定的影响,实现了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定镍-铬-钴系样品中硼的测定.分别采用B 249.677 nm、B 208.957 nm和B 182.578 nm为分析谱线,在合成标样和镍-铬-钴系标样两种校准模式下绘制两种校准曲线,结果表明,无论采用何种校准模式,若不选用MSF模型进行校正,则在各分析谱线处所得校准曲线的相关系数均较差,其最大值仅为0.828(谱线B 208.957 nm),而采用MSF模型校正后,在谱线B 249.677 nm和B 208.957 nm处的相关系数均大于0.990,B 208.957 nm处的相关系数大于0.920.采用MSF模型进行校正,分别以合成标样和镍-铬-钴系标样两种校准模式对3个不同含量水平的镍-铬-钴系标样进行测定,结果表明,采用合成标样校准模式所得结果要优于镍-铬-钴系标样校准模式.因此,将MSF模型校正和合成标样校准模式作为测定镍-铬-钴系样品中硼的分析条件.考虑到若采用谱线B 182.578 nm为分析谱线,会增加分析时间和增大成本,同时在谱线B 208.957 nm处的相关系数、与认定值的吻合性均低于谱线249.677 nm,实验最终选用B 249.677 nm作为分析谱线.精密度试验结果表明,样品A40和198在谱线B 249.677 nm处测定结果的相对标准偏差(RSD,n=8)为2.0%~11.0%,方法检出限为0.0005%.在选定的实验条件下,对GH4720Li合金样品进行分析,并采用离子选择电极法进行方法对照试验,结果表明两种方法测定结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张亮亮		10	16	2.0	3.0
2	雷亚宁		4	15	2.0	3.0
3	赵娟红		1	6	1.0	1.0