快恢复二极管铜迁移失效机理及应用可靠性研究

• 作者: 项永金
• 来源期刊: 电子产品世界
• 关键词: 控制器 二极管 高温铜迁移 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 51-53,65
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2017.4.016

摘要

变频空调控制器柜机主板在生产过程出现大量IPM炸裂失效,IPM炸失效同步自举二极管失效,位置不集中,对主板进行分析,确定是IPM自举电路升压二极管异常导致IPM炸裂失效,经过对大量失效二极管及全检异常二极管分析,分析研究结果表明:二极管因为晶圆设计工艺结构缺陷、焊接工艺问题,导致晶圆焊接时产生高温铜迁移,抗机械应力水平下降,在实际应用中又因为器件引脚跨距设计不合理导致器件受机械应力影响加深失效程度,最终出现过电击穿失效,经大量的方案分析验证最终确定可行的方案,有效解决二极管铜迁移失效.从器件本身提高器件的应用可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	项永金		21	8	1.0	2.0