SRM绕组连接方式对轴承可靠性影响的研究

• 作者: 刘闯 李宁 顾灶根
• 来源期刊: 微电机
• 学科: 工学
• 关键词: 开关磁阻电机 轴承 可靠性 疲劳应力-寿命模型
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 21-25
• 页数: 5页
• 分类号: TM352
• 字数: 4633字
• 语种: 中文

摘要

在SRM轴承的疲劳寿命威布尔分布模型基础上,建立疲劳应力-寿命三参数可靠性预计模型.针对实际运行过程中存在的转子偏心现象,建立转子小偏心情况下绕组不同连接方式的有限元模型,并分析电机绕组的不同连接方式对径向力的影响,然后对轴承载荷进行分析后,认为SRM轴承载荷近似为正弦分布.通过对绕组串、并联时的电磁力进行对比分析,发现绕组并联时电机转子所受的单边磁拉力较串联时小,由此可知绕组并联方式有利于提高了轴承的使用寿命.最后运用疲劳应力-寿命三参数模型对轴承进行可靠性预计,并运用Matlab/Simulink得到绕组串、并联下的可靠度曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘闯	南京航空航天大学航空电源航空科技重点实验室	117	1251	20.0	32.0
2	李宁		6	11	2.0	3.0
3	顾灶根		3	3	1.0	1.0