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摘要:
由于接近光学衍射极限,微米尺度线条纹在经过高倍显微镜放大成像后边缘通常都很模糊,加上同轴光源产生的光照不均匀现象,成像质量通常很差.为了有效测量微米尺度线条纹间距,本文提出了一种针对光学显微线条纹图像的中心线提取算法.首先,采用Retinex方法对原图像进行增强,以克服由光照不均匀所造成的无法准确分割的问题.接着,使用Ostu最佳阈值对图像进行二值分割.然后,针对分割后条纹边缘含有大量毛刺和凹陷的现象,使用基于快速步进算法的边缘塌陷法对中心线进行准确提取.最后,对提取中心线进行了最小二乘拟合.实验结果表明:本文提出的方法可以有效实现微米尺度线条纹光学显微图像中心线的准确提取.使用本方法对标准宽度线条纹间距进行实测的最大测量偏差小于2%.
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文献信息
篇名 光学显微线条纹图像中心线提取
来源期刊 光学精密工程 学科 工学
关键词 显微图像 线条纹 中心线提取 快速步进法 Retinex 边界塌陷
年,卷(期) 2017,(5) 所属期刊栏目 信息科学
研究方向 页码范围 1340-1347
页数 8页 分类号 TP394.1
字数 3534字 语种 中文
DOI 10.3788/OPE.20172505.1340
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张宪民 华南理工大学广东省精密装备与制造技术实验室 193 2458 25.0 40.0
2 李海 华南理工大学广东省精密装备与制造技术实验室 4 12 1.0 3.0
3 黄沿江 华南理工大学广东省精密装备与制造技术实验室 4 14 2.0 3.0
4 单译琳 华南理工大学广东省精密装备与制造技术实验室 1 11 1.0 1.0
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显微图像
线条纹
中心线提取
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Retinex
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光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
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