模拟刚性正压漏孔的泄漏率与压力关系研究

• 作者: 党杰 刘吉 杨明德 陈镇
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 泄漏检测 氦质谱 正压检漏 正压漏孔
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 所属期刊栏目: 真空技术与理论
• 页码范围: 1141-1145
• 页数: 5页
• 分类号: TB774
• 字数: 4229字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13922/j.cnki.cjovst.2017.12.03

摘要

为满足大型氦气工程试验回路(Helium Test Loop,HTL)工作状态下泄漏率的精确定量要求,进行了模拟刚性高压标准漏孔的研制工作.采用石英玻璃钻孔法制作得到正压漏孔2支,测定了漏孔在入口压力为0.7~7.0 MPa(表压),出口为大气压(绝对压力100 kPa)和真空(绝对压力<10 Pa)两种情况下的泄漏率,并且采用圆导管模型模拟了2支漏孔在不同压力范围下泄漏率与压力之间的关系,发现He气通过两支漏孔的泄漏为粘滞-分子流状态,漏率与压差之间的关系可以采用二次多项式进行拟合,拟合相关性系数良好.研究结论很好的揭示了刚性漏孔在较高压力下的泄漏状态,并且为正压检漏在相对较高压力范围内(0~7 MPa)的应用提供了良好的校准工具.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈镇	清华大学核能与新能源技术研究院	24	312	9.0	17.0
2	杨明德	清华大学核能与新能源技术研究院	75	817	16.0	25.0
3	刘吉	清华大学核能与新能源技术研究院	10	88	3.0	9.0
4	党杰	清华大学核能与新能源技术研究院	31	262	8.0	15.0