功率模块铜线键合技术及其可靠性研究

• 作者: 吕家力 朱婷 王立 陈云
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 铝线键合 铜线键合 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN305.94
• 字数: 2503字
• 语种: 中文

摘要

由于铝线键合逐渐不能满足如今功率模块功率密度、工作温度不断提升的可靠性要求,因此采用铜线代替铝线,以实现更高的可靠性工作寿命.对比分析了铜线、铝线键合工艺的特点、结合强度和可靠性,证明了铜线键合工艺的可行性和高可靠性.同时分析了铜线键合工艺目前存在的问题和应对措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈云		2	1	1.0	1.0
2	王立		2	1	1.0	1.0
3	吕家力		1	0	0.0	0.0
4	朱婷		1	0	0.0	0.0