用半导体微位移传感器测量磁致伸缩系数

• 作者: 倪敏 张一帆 董琳 赵彩安 郑源明
• 来源期刊: 大学物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 半导体应变片 磁致伸缩 半导体微位移传感器
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 物理实验
• 页码范围: 35-37,43
• 页数: 4页
• 分类号: O4-33|O472+.91
• 字数: 2279字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16854/j.cnki.1000-0712.2017.09.010

摘要

简述磁致伸缩及其参数测量原理,设计了用半导体应变计取代常用的铝丝电阻应变片,研制成新型的半导体微位移传感器,并用标准长度量具对微位移传感器进行定标,从而直接测量出材料在磁场中微小长度变化量.既解决了原先教学实验不能随意更换样品的麻烦,又提高了测量的灵敏度和精确度,准确测得多种材料的磁致伸缩系数曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	倪敏	上海师范大学数理学院	54	88	5.0	7.0
2	张一帆	上海师范大学数理学院	1	1	1.0	1.0
3	郑源明		1	1	1.0	1.0
4	董琳	上海师范大学数理学院	3	5	1.0	2.0
5	赵彩安	上海师范大学数理学院	3	5	1.0	2.0