紫外荧光法分析工业芳烃中痕量硫

• 作者: 张育红 彭振磊 王川 许竞早
• 来源期刊: 石油化工
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外荧光法 痕量硫 芳烃 分析
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 1419-1423
• 页数: 5页
• 分类号: TE628
• 字数: 3129字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8144.2017.11.013

摘要

利用紫外荧光法建立了工业芳烃中痕量硫的分析方法,优化了仪器的操作条件,考察了该方法的精密度、准确度和检测限.实验结果表明,采用该方法在硫化物质量为2.0×10-9～5.0×10-8g时硫含量与峰面积呈现较好的线性关系,其线性相关系数为0.9988,方法的加标回收率为94.55％～116.67％,测定结果的相对标准偏差为2.09％～9.32％,最低检测限为0.018 mg/kg.该方法快速、准确,可应用于工业芳烃中痕量硫的测定,满足生产企业对芳烃产品中硫含量更严格的控制需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王川		49	134	6.0	9.0
2	彭振磊		16	32	4.0	5.0
3	张育红		26	46	4.0	5.0
4	许竞早		6	4	1.0	1.0