长寿命抗干扰测试针在SOT363半导体高频器件测量中的应用

• 作者: 唐明津 陈伟 陈新
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 长寿命抗干扰测试针 高频器件 成品率
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-10,20
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.07
• 字数: 2293字
• 语种: 中文

摘要

在半导体器件生产企业中,使用测试针接触器件的引脚进行电参数测量,必须考虑两个问题.一个问题是降低测试针与器件引脚间的接触电阻.在自动化生产线中,企业要想得到高精度的测量值,必须经常替换已磨损的测试针,才能获得更高的成品率.另一个问题是降低外部信噪对半导体高频器件(工作频率＞2 GHz) HFE参数测量的影响.外部信噪会使高频器件的HFE参数不稳定,造成成品率的降低.通过SOT363测试针设计实例,介绍了新型长寿命抗干扰测试针的设计方法.