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摘要:
目前京东方部分产品量产时易出现重力Mura、低温气泡等问题,本文针对问题产生的原因进行分析,并对PS高度测试方法、PS高度与液晶量的联动方法进行分析研究及实验验证.目前测试PS高度的方法并未考虑工艺波动造成的色阻段差的变化对盒内体积的影响,本文首先提出了可以反映量产时色阻变化的PS高度测量方法,另根据LC Margin评价结果及PS 形变量结果给出了PS高度与液晶量的联动关系.通过对PS高度与液晶量联动的分析研究,有效解决了因量产工艺波动造成的PS偏差引起的实际量产时滴下的液晶量并非对应的LC Margin中心的问题,从而避免出现重力Mura和低温气泡等LC Margin相关的问题,并且扩大了3%的工程管控范围,为企业的产品品质和竞争力的提升奠定了良好的基础.
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文献信息
篇名 关于液晶联动的分析研究
来源期刊 液晶与显示 学科 工学
关键词 LCMargin PS高度 液晶量
年,卷(期) 2017,(7) 所属期刊栏目 驱动与系统
研究方向 页码范围 543-547
页数 5页 分类号 TN873.93
字数 2454字 语种 中文
DOI 10.3788/YJYXS20173207.0543
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 苗丹丹 1 2 1.0 1.0
2 董安鑫 1 2 1.0 1.0
3 谭聪 1 2 1.0 1.0
4 任文明 1 2 1.0 1.0
5 陆相晚 2 8 2.0 2.0
6 黄寅虎 3 2 1.0 1.0
7 王章涛 3 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
LCMargin
PS高度
液晶量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
液晶与显示
月刊
1007-2780
22-1259/O4
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-203
1986
chi
出版文献量(篇)
3141
总下载数(次)
7
总被引数(次)
21631
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