纳秒脉冲下SF6中的沿面闪络特性

• 作者: 周辉 孙楚昱 张国伟 王海洋
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: SF6 纳秒脉冲 沿面闪络 圆台角度 电场仿真
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 页码范围: 51-55
• 页数: 5页
• 分类号: TM855
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2017.04.011

摘要

通过搭建SF6气体中的沿面闪络实验平台,研究了上升时间约为30 ns的脉冲高压下不同角度圆台形试样的沿面闪络特性.利用电压电流波形得到闪络通道的阻抗变化特性,并对闪络过程机理进行讨论.结果表明:相同高度试样的沿面闪络电压随角度的增加而增大;相同沿面距离试样的沿面闪络电压随角度的增加而减小.沿面距离与表面电场不均匀系数是影响不同形状试样沿面闪络电压差异的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周辉		84	938	16.0	26.0
2	王海洋		19	132	7.0	10.0
3	张国伟		20	107	7.0	9.0
4	孙楚昱		1	1	1.0	1.0