原文服务方: 电子质量       
摘要:
通过统计该科室行波管实际制管过程中因漏气导致真空失效的种类及数量,分析得到行波管制管过程中薄弱环节为金属陶瓷封接工艺,因该原因导致部件及整管失效样本数占总失效样本数一半以上.该文分析了因真空漏气导致失效的影响及相应的改进手段及预防措施,为后续行波管工艺进一步提升指明了方向.
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文献信息
篇名 行波管制管过程中因真空失效的种类及原因分析
来源期刊 电子质量 学科
关键词 失效统计分析 行波管工艺
年,卷(期) 2017,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 31-33
页数 3页 分类号 TN124|F253.3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2017.11.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘泳良 中国科学院电子学研究所 2 2 1.0 1.0
2 单美琴 中国科学院电子学研究所 2 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
失效统计分析
行波管工艺
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导