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摘要:
日前,由中国科学院微电子研究所和株洲中车时代电气股份有限公司共同完成的"高性能SiC SBD、MOSFET电力电子器件产品研制与应用验证"项目科技成果鉴定会在北京顺利召开。本次鉴定会由中国电子学会组织,西安电子科技大学的郝跃院士担任鉴定会主任.
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医疗事故与医学科技成果鉴定的比较及启示
医疗事故
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启示
碳化硅及碳化硅制品
碳化硅
粉体合成
碳化硅制品
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 中车时代电气碳化硅器件项目通过科技成果鉴定
来源期刊 半导体信息 学科 工学
关键词 科技成果鉴定会 碳化硅器件 电气 西安电子科技大学 电子研究所 中国科学院 电力电子器件 MOSFET
年,卷(期) bdtxx_2017,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 13-14
页数 2页 分类号 TN304.24
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研究主题发展历程
节点文献
科技成果鉴定会
碳化硅器件
电气
西安电子科技大学
电子研究所
中国科学院
电力电子器件
MOSFET
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体信息
双月刊
16开
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东
1990
chi
出版文献量(篇)
5953
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