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摘要:
国产金镍体系管壳在鉴定检验中,常出现腐蚀、掉字等镀层质量问题,直接影响器件的封装可靠性.结合镀层常见质量问题,分析镀层的厚度、结构等影响因素;利用扫描电镜和能谱分析,从外观、厚度、结合力、耐热性、结构和成分六方面,进行了国产与进口管壳样品的镀层质量特性分析;选取国产与进口管壳样品各10只,开展湿热试验和盐雾试验,分析Au/Ni管壳的薄弱环节和抗腐蚀性能.结果表明,国产管壳相比进口管壳的不足,主要表现在打标方式不成熟、金层厚度较为单薄、镀层结构不够合理、材料纯度相对较低等方面;在打印标记处和平行焊缝处,管壳的抗腐蚀性能较弱.
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文献信息
篇名 国产与进口管壳金镍镀层质量特性分析
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 金镍镀层 管壳 质量特性 薄弱环节 抗腐蚀 可靠性
年,卷(期) 2017,(8) 所属期刊栏目 可靠性
研究方向 页码范围 111-116
页数 6页 分类号 TN406
字数 4108字 语种 中文
DOI 10.14106/j.cnki.1001-2028.2017.08.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄姣英 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 41 128 6.0 10.0
2 高成 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 42 195 8.0 13.0
3 张明杰 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 9 10 2.0 3.0
4 傅成城 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 3 0 0.0 0.0
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电子元件与材料
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62-36
1982
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