GIS设备典型缺陷的X射线数字成像检测技术

• 作者: 刘叙笔 王成亮 许焕清 郑书生 马君鹏 黄烜城
• 来源期刊: 电网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 气体绝缘组合电器 带电检测 X射线 成像 有效性
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 1697-1702
• 页数: 6页
• 分类号: TM932
• 语种: 中文
• DOI: 10.13335/j.1000-3673.pst.2016.1844

摘要

GIS设备内部缺陷严重威胁着电力系统的安全可靠性.为了及时检出和准确诊断GIS内部潜在的危险缺陷,探索了基于X射线数字成像的GIS内部典型缺陷检测技术的可行性.归纳总结了GIS本体与其内部典型缺陷的主要材质,分析了X射线经过各种材质后的射线强度变化情况,基于此分析了X射线数字成像技术对各种典型缺陷的检测有效性,并通过实验对上述分析结果进行了验证.研究结果表明:X射线数字成像技术可以检测出对于高压金属尖端、壳体内金属颗粒、金属部件接触不良、绝缘子表面金属颗粒、绝缘子气隙等典型缺陷.文中的研究成果对于运用X射线数字成像技术开展GIS典型缺陷检测及对缺陷类型进行初步诊断具有重要的指导意义.