高能脉冲C6+离子束激发Ni靶的K壳层X射线

• 作者: 任洁茹 周贤明 孙渊博 张小安 徐戈 曾利霞 梅策香 王兴 程锐 赵永涛 雷瑜
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: X 射线 产生截面 高能脉冲束
• 年，卷（期）: 2017,（14）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 345-352
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.66.143401

摘要

精确测量离子与原子碰撞引起的靶原子内壳层电离截面,对研究原子内壳层过程以及建立合适的理论模型具有重要的意义.现有的实验数据和理论模型大都集中在中低能区,高能区由于受到实验条件的限制,几乎没有相关实验数据的报道,哪种理论更适合描述高能重离子入射的靶原子内壳层电离截面,还需要进行深入的实验研究.采用电子冷却存储环提供能量分别为165,300,350,430 MeV/u的C6+离子束轰击Ni靶,测量Ni的K壳层X射线.分析了实验中探测到的Ni的Kβ 和Kα 射线强度比,发现入射粒子能量的变化对该强度比影响不明显.分别应用两体碰撞近似(BEA)、平面波玻恩近似(PWBA)和ECPSSR理论对Ni的K壳层X射线的产生截面进行理论计算,并将理论结果与实验结果进行比较.