光伏组件潜在诱导衰减的研究

• 作者: 卞水明 熊保鸿 陈晓高
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 光电子学 抗PID光伏组件 电容效应 漏电流
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 字数: 1286字
• 语种: 中文

摘要

光伏组件的潜在诱导衰减(PID)会减少光伏发电系统对外输出的电能,严重情况下会使光伏发电系统瘫痪,几乎无法对外输出电能.在温度为85℃和85%湿度的条件下,对单块光伏组件进行潜在诱导衰减效应的模拟测试,即组件的铝边框和输出端产生1000 V的电势差,每隔6 h测试组件的电致发光(EL)和I-V性能,老化时间持续了48 h.结果表明:该效应会使组件产生漏电,漏电程度随着实验持续的时间而变得严重.运用电容器原理去解释潜在诱导衰减产生的物理机制,前板采用亚克力板去制作新的光伏组件,能使组件的功率衰减控制在5%以内,完全具有抗PID的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈晓高		5	12	1.0	3.0
2	熊保鸿		3	10	1.0	3.0
3	卞水明		1	1	1.0	1.0