机械装备的失效分析(续前)第7讲电子光学分析技术

• 作者: 王荣
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 透射电子显微镜 扫描电子显微镜 X射线能谱仪 电子背散射衍射仪 俄歇电子谱仪
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 专题讲座
• 页码范围: 691-700
• 页数: 10页
• 分类号: TH838|TN16
• 字数: 10233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl201710001

摘要

对高速电子束入射到试样表面时产生的一系列电子和光子信号进行了介绍,对透射电子、背散射电子和二次电子的衍射机理和成像机理,以及利用特征X射线和俄歇电子进行元素成分的定性和定量分析原理进行了概述,对透射电子显微镜和扫描电子显微镜的结构、工作原理、工作特性、试样要求及制样过程等作了较详细的描述,重点讨论了X射线能谱仪、电子背散射衍射仪以及俄歇电子谱仪在机械装备构件深层次失效机理研究方面的作用.实际应用表明:电子光学分析技术在机械构件失效分析中的主要应用是可以从深层次(可达到原子级别)研究构件失效的本质,包括材料的晶体结构、组分、表面微观形貌及各种特性等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王荣	上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室	56	257	8.0	12.0