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全耗尽绝缘硅FD-SOI工艺技术的特点分析
全耗尽绝缘硅FD-SOI工艺技术的特点分析
作者:
孔文
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路制造
全耗尽绝缘硅
RF-SOI
摘要:
在先进的IC制造工艺方面,由Intel主导的FinFET一直大行其道.而最近这几年,SOI,包括FD-SOI和RF-SOI越来越受到人们的关注,特别是随着物联网和5G时代的到来,其技术优势和应用前景也越发地被看好.在应用层面,总的来说,FinFET的目标市场是中高端的高性能集成电路,而FD-SOI则是面向中端的、要求低功耗和高性价比的应用.
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文献信息
篇名
全耗尽绝缘硅FD-SOI工艺技术的特点分析
来源期刊
集成电路应用
学科
工学
关键词
集成电路制造
全耗尽绝缘硅
RF-SOI
年,卷(期)
2017,(11)
所属期刊栏目
工艺与制造
研究方向
页码范围
38-41
页数
4页
分类号
TN405
字数
3339字
语种
中文
DOI
10.19339/j.issn.1674-2583.2017.11.009
五维指标
作者信息
序号
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路制造
全耗尽绝缘硅
RF-SOI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
主办单位:
上海贝岭股份有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-2583
CN:
31-1325/TN
开本:
16开
出版地:
上海宜山路810号
邮发代号:
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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