基于X-pinch丝负载的背光照相研究

• 作者: 张天爵 曾乃工 王川 邹俭
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X-pinch 等离子体 背光照相
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1484-1487
• 页数: 4页
• 分类号: TL515
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2016.youxian.0746

摘要

以天光Ⅱ-B装置(250 kA/50 ns)作为实验平台,在装置负载的阴阳极和回流盘上同时安装X-pinch丝负载,利用天光Ⅱ-B驱动X-pinch丝负载,通过背光照相实验获得箍缩发展不同时刻的序列图像.在序列图像中可观察到箍缩叉点处等离子体的内爆及外爆消散.实验结果有助于进一步理解丝负载箍缩等离子体发展的物理机制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张天爵	中国原子能科学研究院串列加速器升级工程部	58	121	6.0	7.0
2	邹俭	中国原子能科学研究院串列加速器升级工程部	13	26	3.0	4.0
3	王川	中国原子能科学研究院串列加速器升级工程部	23	33	3.0	4.0
4	曾乃工	中国原子能科学研究院串列加速器升级工程部	12	34	3.0	5.0