微区残余应力的毛细管X射线透镜检测方法

• 作者: 刘芯 吴思宇 周鹏 安宁 李玉德 郭非
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 毛细管X射线透镜 残余应力 微区
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3088字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201707015

摘要

针对现有小功率残余应力仪在进行微区应力检测时,存在衍射强度低导致测试准确度低、稳定性差等问题,阐述了一种毛细管X射线透镜结合应力仪实现微区应力检测的方法.采用基于全反射原理的透镜,通过对X射线的调控,形成微区照射面积,将相同照射面积下的光强度提高数十倍,且在衍射半高宽适度增大的情况下,对检测出的应力值影响不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴思宇		2	1	1.0	1.0
2	郭非		5	1	1.0	1.0
3	刘芯		2	1	1.0	1.0
4	安宁		1	1	1.0	1.0
5	周鹏		1	1	1.0	1.0
6	李玉德		1	1	1.0	1.0