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摘要:
利用无掩模反应离子刻蚀法制备黑硅,研究了黑硅微结构密度和高度对其光学特性的影响.采用场发射扫描电子显微镜和带积分球的紫外-可见-近红外分光光度计分别表征黑硅微结构形貌和光学特性.研究结果表明,黑硅微结构密度增大和高度增加,则黑硅吸收率增大,高度较大的微结构更加有利于增强黑硅近红外光吸收.无掩模反应离子刻蚀法制备的黑硅的吸收率在高温退火过程中保持稳定.
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文献信息
篇名 黑硅微结构与光学特性研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 黑硅 微结构 光学性能
年,卷(期) 2017,(6) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 818-821
页数 4页 分类号 TQ127.2
字数 语种 中文
DOI 10.16818/j.issn1001-5868.2017.06.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李仁豪 24 60 5.0 6.0
2 杨修伟 6 7 2.0 2.0
3 伍明娟 6 2 1.0 1.0
4 刘晓琴 中国人民解放军驻重庆气体压缩机厂军事代表室 12 25 3.0 4.0
5 廖乃镘 14 12 2.0 2.0
6 向华兵 6 4 1.0 2.0
7 罗春林 8 8 2.0 2.0
8 寇琳来 3 0 0.0 0.0
传播情况
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光学性能
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期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
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