一种ML C闪存存储系统的比特翻转译码算法

• 作者: 张旋 慕建君 焦晓鹏
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 多级存储单元 低密度奇偶校验码 单元间干扰 比特翻转译码
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 页码范围: 75-80,146
• 页数: 7页
• 分类号: TP301.6|TN911.22
• 字数: 4237字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2017.05.013

摘要

随着多级存储单元比特存储密度的增加,单元间干扰成为影响闪存可靠性的主要因素.针对这种情况,在深入分析多级存储单元内部数据存储信道错误规律的基础上,设计了多级存储单元闪存译码的比特翻转规则,提出了一种适用于多级存储单元闪存的改进型比特翻转译码算法.仿真结果表明,在相同的感知精度时,所提出的多级存储单元闪存比特翻转算法的译码性能优于多级存储单元闪存比特翻转译码算法的性能,而且多级存储单元闪存的改进型比特翻转译码算法可有效减少译码的平均迭代次数,从而实现了译码复杂度和性能间的良好折中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	慕建君	西安电子科技大学计算机学院	34	249	6.0	15.0
2	焦晓鹏	西安电子科技大学计算机学院	13	113	3.0	10.0
3	张旋	西安电子科技大学计算机学院	28	27	3.0	4.0