工业CT检测C/SiC复合材料构件可靠性评定研究

• 作者: 于士章 江柏红 董家驹 高晓进
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: C/SiC复合材料 工业CT 像质计 缺陷
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 页码范围: 997-1001
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1928字
• 语种: 中文

摘要

以包含孔洞、夹杂、裂纹、分层等典型缺陷的C/SiC复合材料构件为研究对象,设计了一种可用于评价C/SiC复合材料工业CT检测结果的像质计,提出了一种工业CT检测结果评价方法,并通过高分辨率CT验证了工业CT检测方法的可靠性.研究结果表明,本文设计的像质计可以用于评价工业CT检测结果的可靠性,孔型像质计可以反应孔洞、夹杂等体积型缺陷检测能力,间隙像质计可以反应裂纹、分层等面积型缺陷检测能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江柏红		8	14	3.0	3.0
2	于士章		4	5	2.0	2.0
3	高晓进		11	12	3.0	3.0
4	董家驹		3	5	2.0	2.0