复合绝缘子表面雾滴对其闪络路径的影响

• 作者: 冯尧 周思宇 蔡志远 高磊
• 来源期刊: 东北电力技术
• 学科: 工学
• 关键词: 盐密 闪络路径 场致发射 电场仿真 不明闪络
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 专论
• 页码范围: 1-5,10
• 页数: 6页
• 分类号: TM216|TM75
• 字数: 3161字
• 语种: 中文

摘要

自制雾霾模拟试验箱对复合绝缘子进行人工喷雾试验,模拟复合绝缘子在不同积污阶段受污情况,用升压法对其加压测其闪络电压,观察其闪络路径.根据所得试验结果又进一步设计了破坏憎水性试验和喷纯水试验.研究表明绝缘子伞叶上下表面均积污时,所喷雾水盐度越低其闪络电压值越高且发生空间击穿的概率也越高,盐度高时则相反.而仅伞叶上表面积污时,均发生空间击穿.然后用有限元分析软件对上述几种污染情况进行电场仿真,提出目前所谓的“不明闪络”也可能是水滴场致发射的作用所造成的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡志远	沈阳工业大学电气工程学院	62	306	9.0	14.0
2	高磊	沈阳工业大学电气工程学院	2	1	1.0	1.0
3	周思宇	沈阳工业大学电气工程学院	3	1	1.0	1.0
4	冯尧	沈阳工业大学电气工程学院	3	7	1.0	2.0