紧耦合MIMO系统SVA室内衰落信道容量分析

• 作者: 孙得娣 徐荣蓉
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 紧耦合 SVA 室内衰落信道 容量
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 101-103,107
• 页数: 4页
• 分类号: TP3911|TN929.5
• 字数: 2010字
• 语种: 中文

摘要

近年来MIMO系统的天线日渐趋于小型化,随之而来的紧耦合效应成为影响信道容量的主要因素.首先介绍了SVA室内衰落信道模型的建模方法,其次给出了天线间的耦合效应产生的原理,最后将耦合效应带入信道模型中,并且分析其在丰富的多径情况下不同天线间距对信道容量的影响.仿真结果显示天线耦合效应会导致信道容量减少,并且天线间距越短,耦合效应对信道容量的影响越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐荣蓉	河海大学计算机与信息学院	3	11	1.0	3.0
2	孙得娣	河海大学计算机与信息学院	3	11	1.0	3.0