心血管植入式电子装置导线相关静脉血栓形成的危险因素分析:112例报告

• 作者: 兰凯 卢才义 周叶 张晔 张玉霄 彭利 王妮娜 苑洪涛 薛桥 黄亚
• 来源期刊: 中华老年多器官疾病杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 心血管植入式电子装置 深静脉血栓 危险因素 心血管疾病
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 临床研究
• 页码范围: 257-260
• 页数: 4页
• 分类号: R541
• 字数: 2939字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11915/j.issn.1671-5403.2017.04.060

摘要

目的 研究心血管植入式电子装置(CIED)导线相关静脉血栓形成的相关危险因素,为临床预防提供理论依据.方法 选取2013年9月至2015年12月解放军总医院心血管内科使用CIED且随访资料完整的住院患者112例,根据术后血管超声检查结果进行分组,血栓组56例,年龄(71.86±8.35)岁;非血栓组56例,年龄(71.23±10.62)岁,运用多因素logistic回归分析对CIED导线相关静脉血栓形成的危险因素进行分析.结果 两组房颤患者数、植入除颤导线患者数、服用抗凝药物患者数和左室射血分数、全血糖化血红蛋白水平以及手术中静脉穿刺次数、手术时间、导线数量相比较,差异均有统计学意义(P<0.05).多因素logistic回归分析表明,房颤、术中静脉穿刺次数、手术时间及导线数量是CIED导线相关静脉血栓形成的危险因素,服用抗凝药物是保护因素.结论 房颤、静脉穿刺次数、手术时间及导线数量是CIED导线相关静脉血栓形成的独立危险因素.