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摘要:
由于SiC MOSFET开关速度较快,使得桥式电路中串扰问题更加严重,这样不仅限制了SiC MOSFET开关速度的提升,也会降低电力电子装置的可靠性.针对SiC MOSFET的非开尔文结构封装和开尔文结构封装的串扰问题分别进行分析,栅漏极结电容的充放电电流和共源寄生电感电压均会引起处于关断状态开关管的栅源极电压变化.提出一种用于抑制串扰问题的驱动电路,该驱动电路具有栅极关断阻抗低、结构简单、易于控制的特点.分析该驱动电路的工作原理,提供主要参数的计算方法.最后通过实验测试了两种结构封装SiC MOSFET的串扰问题,并且对提出的驱动电路进行了实验,验证了其正确性以及对串扰问题的抑制效果.
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文献信息
篇名 桥式电路中不同封装SiC MOSFET串扰问题 分析及低栅极关断阻抗的驱动电路
来源期刊 电工技术学报 学科 工学
关键词 串扰 SiCMOSFET 驱动电路 共源寄生电感
年,卷(期) 2017,(18) 所属期刊栏目 电力电子
研究方向 页码范围 162-174
页数 13页 分类号 TM133|TN34
字数 6748字 语种 中文
DOI 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.L70527
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑琼林 北京交通大学电气工程学院 196 3061 32.0 50.0
2 梁美 北京交通大学电气工程学院 7 65 2.0 7.0
3 李艳 北京交通大学电气工程学院 53 250 9.0 14.0
4 赵红雁 北京交通大学电气工程学院 6 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
串扰
SiCMOSFET
驱动电路
共源寄生电感
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术学报
半月刊
1000-6753
11-2188/TM
大16开
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
6-117
1986
chi
出版文献量(篇)
8330
总下载数(次)
38
总被引数(次)
195555
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