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超高频射频识别标签性能测试的研究
原文服务方：
电子质量
摘要：
超高射频识别(UHF RFID)作为构建"物联网"的关键技术,其性能是RFID标签客户终端关注的重点.该文为了客户终端能更好地挑选适合自己的RFID标签,对RFID标签性能评价指标和测试进行了简单介绍.
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物联网
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多卡识别
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研究主题发展历程
节点文献
超高频射频识别标签
性能
评价指标
研究起点
研究来源
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研究去脉
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期刊影响力
电子质量
主办单位：
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-0107
CN：
44-1038/TN
开本：
大16开
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
1980-01-01
语种：
chi
出版文献量（篇）
7058
总下载数（次）
0
总被引数（次）
15176
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