基于CMOS图像传感器的微透镜平移算法研究

• 作者: 武岩 高春 魏巍
• 来源期刊: 现代计算机：中旬刊
• 学科: 工学
• 关键词: CIS 微透镜平移 光学仿真 平移量
• 年，卷（期）: 2017,（12）
• 页码范围: 66-70
• 页数: 5页
• 分类号: TP212

摘要

针对照射到CIS像素阵列边缘像素中光电二极管上的光照强度减弱，导致整个芯片的串扰增加以及灵敏度下降的问题，在分析几种微透镜平移算法的优缺点基础上，提出一种在保证平移精度的同时减少微透镜平移计算量的算法，并在光学仿真平台Light Tools软件上进行仿真测试及验证。该算法解决平移量计算不精确和计算量过大等问题，明显提高微透镜平移量的计算效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武岩	长春理工大学计算机科学技术学院	18	23	2.0	4.0
2	高春	长春理工大学计算机科学技术学院	2	0	0.0	0.0
3	魏巍	长春理工大学计算机科学技术学院	5	2	1.0	1.0