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基于STM32的电容式角度检测系统
基于STM32的电容式角度检测系统
作者:
尤星懿
徐沛
李雪莲
阚茹男
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
Pcap01
STM32
Labview
角度测量
摘要:
该文介绍了一种电容式角度测量装置,利用平行板电容器原理,当角度发生变化时,平行板电容的相对面积变化,导致电容发生变化.基于Pcap01芯片测量电容信号,在STM32F405芯片上实现电容角度转换,实现角度0~90度测量,给出了硬件电路和软件结构设计,使用Labview作为上位机界面实时检测和记录角度.实验表明,达到了较高的精确度和较小的测量误差.
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篇名
基于STM32的电容式角度检测系统
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
Pcap01
STM32
Labview
角度测量
年,卷(期)
2017,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
20-24
页数
5页
分类号
TP273
字数
1824字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
徐沛
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尤星懿
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研究主题发展历程
节点文献
Pcap01
STM32
Labview
角度测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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