分层γ扫描技术中HPGe探测器几何因子加权刻度方法

• 作者: 刘宇琦 庹先国 李志刚 石睿
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 废物桶 分层γ扫描装置 效率刻度校准 几何因子
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 123-129
• 页数: 7页
• 分类号: TL99
• 字数: 2317字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.160561

摘要

分层γ扫描(SGS)测量分析是一种无损检测技术,是桶装核废物定性、定量分析的重要手段.实际分析过程中,随着放射性核素所在的位置变化,对应每层不同的位置HPGe探测器的探测效率也随之变化,导致对样品不同位置需分别进行效率刻度.本工作用均匀聚乙烯样品填充废物桶,采用SGS装置的测量方法估计放射核素活度.将放射性点源置于桶内,按距离桶的中心距离依均匀分布规律选取7个点,分别对其进行效率刻度.并建立SGS测量系统几何模型,通过两种方法将1～7号位置的几何因子对探测效率计算结果进行加权平均,后给出每层的探测效率标准值,此标准值可充分估计每层不同位置对核素的探测效率.结果表明:在测量和计算误差存在的条件下,可以快速准确估计出放射性废物桶内不同位置的核素放射性活度,提高检测精度.