基于失败向量信息的难测固定故障测试向量生成

• 作者: 侯明星 赵秀才 邓亮 黄斌科
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 难测固定故障 测试向量生成 失败向量 生成概率
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 页码范围: 140-145
• 页数: 6页
• 分类号: TN707
• 语种: 中文

摘要

针对数字电路中难测固定故障测试向量生成效率低的问题,基于失败向量信息实现难测固定故障的测试向量生成.该方法利用难测固定故障失败向量与成功向量在端口逻辑值上可能具有的相反属性,以输入端口逻辑值的概率信息量化失败向量的特征,从而提高难测固定故障成功测试向量生成的生成概率,缩小测试向量的搜索范围,提高了测试向量生成的效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓亮	西安交通大学电子与信息工程学院	2	0	0.0	0.0
2	黄斌科	西安交通大学电子与信息工程学院	23	72	4.0	7.0
3	赵秀才	中国电子科技集团公司第四十一研究所	5	61	1.0	5.0
4	侯明星	西安交通大学电子与信息工程学院	2	1	1.0	1.0