基于优化背景差分法光学薄膜表面检测系统

• 作者: 何文 张毅
• 来源期刊: 控制工程
• 学科: 工学
• 关键词: 切膜机 机器视觉 光学薄膜 背景差分法
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 安全监控系统
• 页码范围: 2151-2155
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 4457字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14107/j.cnki.kzgc.151041

摘要

切膜机生产线上,需将膜切成各种规格的产品.但是在具体的操作过程中,其表面将产生诸多类型的缺陷,因此必须加以检测,例如,污渍、划痕等问题的检测.本文根据过去人工法存在效率相对较低的现实问题,阐明基于计算机视觉的自动检测设计方案,并且阐明优化的背景差法,这种方法对检测非常适用.经过验证,该技术非常有效、算法可行,能够快速检测其中存在的缺陷,在很大程度上改善了生产率.在明显缩短剪切时间的基础上,降低了生产原料的损失,极大地迎合市场需求.同时通过新的检测方法,以及均值滤波得到目标的背景,研究发现,其可以明显改善传统方法的不足.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张毅	成都医学院人文信息管理学院	11	20	2.0	4.0
2	何文	成都医学院人文信息管理学院	10	33	4.0	5.0