M-LVDS总线FPGA软件安全性测试

• 作者: 封亮 胡胜旺 郑丹
• 来源期刊: 信息技术与网络安全
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA M-LVDS FTA FMEA 安全性测试
• 年，卷（期）: 2017,（21）
• 所属期刊栏目: 智能工业与信息安全
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.53
• 字数: 2860字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19358/j.issn.1674-7720.2017.21.002

摘要

随着FPGA(现场可编程门阵列)在航空航天、核能、轨道交通等领域中的广泛应用,由FPGA软件设计引起的安全问题日益突出.通过借鉴软件安全性分析方法,结合FTA、FMEA两种安全性分析技术,将这两种分析方法综合应用,对M-LVDS总线FPGA软件进行了安全性分析.采用仿真故障注入方式设计测试用例,对易引发系统高危失效的事件进行充分的安全性分析与测试,有效提高了M-LVDS总线FPGA软件的测试质量,同时为FPGA软件设计中常见的典型接口类应用安全性分析与测试提供了有益的探索和参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡胜旺	中国电子科技集团公司第三十二研究所	3	1	1.0	1.0
2	郑丹	中国电子科技集团公司第三十二研究所	5	1	1.0	1.0
3	封亮	中国电子科技集团公司第三十二研究所	3	0	0.0	0.0