基于FPGA的T i me-To-Count辐射测量仪的系统研究

• 作者: 侯广军 王洋 高健
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: FPGA Time-To-Count 盖革一弥勒计数管 辐射测量
• 年，卷（期）: 2017,（20）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 178,180
• 页数: 2页
• 字数: 1467字
• 语种: 中文

摘要

本文以FPGA EP1C12F256i7芯片为核心,根据Time-To--Count辐射测量方法学习探讨.使用其核心器件,对于Time-To-Count技术使用方法,利用EP1C12F256i7芯片的计数器设置控制硬件逻辑引脚功能,解决了Gm管较长死时间问题,导致测量范围误差较大,本文论证FPGA EP1C12F256i7处理器芯片的time-to-count可以提高GM计数管的测量范围与测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王洋		4	0	0.0	0.0
2	侯广军		2	0	0.0	0.0
3	高健		1	0	0.0	0.0