摘要:
使用等离子注入技术对SnO2薄膜进行N离子注入改性,进行方块电阻、光学透过、表面形貌、Kelvin探针和X射线光电子能谱(XPS)表征,并将其作为缓冲层应用到CdTe太阳电池中.研究结果发现,对于30 nm厚的SnO2缓冲层,经过30 s、10 min 不同时间N离子注入以后,其300~800 nm波长范围透过率有所降低,而体电阻率则明显增加,特别是N离子注入10 min的SnO2缓冲层,表面出现很多凹孔,呈蜂窝状结构,且对后续沉积的CdS层表面形貌产生了明显影响.Kelvin探针表征结果显示,随着N离子注入时间的延长,SnO2缓冲层功函数逐渐增加,最高达到约5.075 eV,比本征SnO2缓冲层的功函数高出0.15 eV.XPS测试结果显示,N离子注入10 min后,SnO2缓冲层N1s结合能峰位向低结合能方向发生了明显移动,而O1s结合能峰位则向高结合能方向移动了,且表面区非晶格氧所占比例增大.对比电池结果,有N离子注入改性SnO2缓冲层的电池与无缓冲层的电池相比,效率从10%左右增加到12%以上,最高达到12.47%,其中开路电压提高最为显著,从约750 mV提高到790 mV以上,提升了约5%,电池的整体均匀性也明显改善.