胚胎型仿生自修复系统硬件消耗分析

• 作者: 孟亚峰 朱赛 韩春辉
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电子细胞辅助电路 胚胎电子阵列 硬件消耗 自修复能力
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件设计与应用
• 页码范围: 129-132
• 页数: 4页
• 分类号: TN911-34|TP302.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.06.032

摘要

胚胎型仿生自修复系统具有实时自修复能力,可用于高可靠性电子系统的设计.在设计过程中,其硬件消耗是工程师十分关心的问题.在分析胚胎型仿生自修复系统结构基础上,根据自修复过程特征,建立了其系统硬件消耗模型.并以三模冗余自修复系统为对比,对胚胎型仿生自修复系统的硬件消耗进行了仿真分析.分析表明,胚胎型仿生自修复系统在大规模、高自修复能力的电路设计中具有优越性,且通过电子细胞辅助电路的优化设计,可以降低自修复过程中的硬件消耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩春辉	军械工程学院电子与光学工程系	17	102	5.0	9.0
2	孟亚峰	军械工程学院电子与光学工程系	56	260	8.0	10.0
3	朱赛	军械工程学院电子与光学工程系	25	101	6.0	7.0