软磁磁芯高激励条件下的损耗测量技术

• 作者: 孙俊超 林颖瑞 王红霞
• 来源期刊: 磁性元件与电源
• 学科: 工学
• 关键词: 软磁磁芯的交流磁性能 损耗 磁滞回线 直流偏置 损耗测试仪
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 页码范围: 143-147
• 页数: 5页
• 分类号: TM26

摘要

本文对软磁材料和高激励条件下的交流损耗测量技术进行了探讨，尤其足对超大尺寸的低磁导牢金属磁粉芯材料的损耗测试，以及在直流偏置下的磁芯的损耗及BH曲线测试方法进行了介绍。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林颖瑞		2	0	0.0	0.0
2	王红霞		1	0	0.0	0.0
3	孙俊超		1	0	0.0	0.0