微波测试夹具及其TRL校准件的设计与制作

• 作者: 曹锐 芮金城 陶晓辉
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 微波测试 夹具 TRL校准件 氮化镓 去嵌入
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 协议·算法与仿真
• 页码范围: 93-95,99
• 页数: 4页
• 分类号: TN368
• 字数: 1427字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2017.11.025

摘要

为了满足设计功率放大器时对晶体管精确测试的要求,设计了一种工作在S波段的氮化镓晶体管专用微波测试夹具,根据TRL校准原理制作了相应的校准件来完成夹具的去嵌入.实际测试结果表明,该测试夹具及TRL校准件达到了预期的效果,仿真值与实测值一致性好,损耗误差为0.3 dB,去嵌入之后得到的夹具差损＜0.4 dB,S11和S22＜-15 dB,用该夹具测得的晶体管参数与其数据手册给出的值相吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹锐	中国电子科技集团公司第38研究所重点实验室	17	51	3.0	6.0
2	芮金城	合肥工业大学光电技术研究院	2	6	2.0	2.0
3	陶晓辉	中国电子科技集团公司第38研究所重点实验室	1	4	1.0	1.0