抗干扰屏蔽式EMI滤波器插入损耗测试夹具设计

• 作者: 康武闯 洪瑜鹏 陈益芳
• 来源期刊: 电子技术
• 关键词: EMI滤波器 插入损耗 测试夹具
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 电子技术设计与应用
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 字数: 1798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2017.02.011

摘要

对于插针式EMI滤波器,插入损耗测试若滤波器和网络分析仪处于同一电磁环境下,则滤波器的输入、输出端口将会出现电磁耦合,造成测试数据失真,而且信号的频段越高,造成的失真情况越显著.传统的测试方法有简单的夹具装夹、屏蔽箱/屏蔽室屏蔽,此类方法并不适于高频测试或批量生产自检及质量专检.本文以我司某插针式滤波器为例,介绍一种下沉插座式干扰屏蔽测试夹具,为插针式滤波器插入损耗测试平台设计提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈益芳		2	1	1.0	1.0
2	洪瑜鹏		2	1	1.0	1.0
3	康武闯		2	1	1.0	1.0