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摘要:
介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序.
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文献信息
篇名 实时测试波形采显技术的研究
来源期刊 电子测试 学科
关键词 等效采样 实时采样 波形采显
年,卷(期) 2017,(9) 所属期刊栏目 设计与研发
研究方向 页码范围 27-28,24
页数 3页 分类号
字数 2253字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 尚磊 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 1 1 1.0 1.0
2 李杰 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 1 1 1.0 1.0
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2019(1)
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研究主题发展历程
节点文献
等效采样
实时采样
波形采显
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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