基于紫外成像技术的瓷绝缘子串放电程度量化评估

• 作者: 尚晓光 张楠 王林军 石海珍 贾志东 贾骉
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 紫外成像 仪器增益 检测距离 紫外光子数 光斑面积脉冲 放电评估 污闪预警
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 输配电设备状态评价与故障诊断
• 页码范围: 1467-1475
• 页数: 9页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20170428011

摘要

为利用紫外成像技术对绝缘子串的放电程度进行量化评估,首先以稳定放电源和紫外成像仪搭建试验装置,研究了增益、距离、角度和风力4种参数对紫外成像结果的影响.然后利用瓷绝缘子串开展了一系列人工污秽试验,用紫外成像仪记录下绝缘子串在电压不断升高过程中的放电现象,从紫外检测视频中提取了光子数、光斑面积和光斑数量等指标,分析了其与绝缘子串放电强度的对应关系.稳定放电源试验发现,仪器增益、距离与紫外检测结果在一定范围内均存在指数关系,角度和风力对放电的影响可忽略不计.污闪试验研究发现,从视频中提取的指标与绝缘子串放电强度存在明显的正相关关系,根据指标数值大小可将放电分为电晕放电、间歇性电弧放电和持续性电弧放电3个等级,实现了利用紫外成像技术对绝缘子串放电强度进行量化评估的目的.研究成果对紫外成像技术的应用以及绝缘子串污闪预警具有重要意义.