基于SRAM型FPGA单粒子效应的故障传播模型

• 作者: 吴珊 周学功 王伶俐
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 单粒子翻转 单位翻转 多位翻转 电路故障传播模型
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1976-1984
• 页数: 9页
• 分类号: TN47
• 字数: 5075字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.08.024

摘要

SRAM型FPGA在辐射环境中易受到单粒子翻转的影响,造成电路功能失效.本文基于图论和元胞自动机模型,提出了一种针对SRAM型FPGA单粒子效应的电路故障传播模型.本文将单粒子翻转分为单位翻转和多位翻转来研究,因为多位翻转模型还涉及到了冲突处理的问题.本文主要改进了耦合度的计算方式,通过计算FPGA布局布线中的相关配置位,从而使得仿真的电路故障传播模型更接近于实际电路码点翻转的结果,与以往只计算LUT相关配置位的方法比较,平均优化程度为19.89%.最后阐述了本模型在故障防御方面的一些应用,如找出最易导致故障扩散的元胞.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周学功	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	22	201	8.0	13.0
2	王伶俐	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	33	124	6.0	9.0
3	吴珊	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	1	1	1.0	1.0