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摘要:
通过倒相法原位制备P(VDF-HFP)/SiO2复合聚合物电解质膜,将其于1.0 mol/L LiPF6/(EC+DMC+EMC)中浸泡30 min即得复合聚合物电解质.采用扫描电子显微镜法(SEM)、X射线衍射光谱法(XRD)、线性扫描法(LSV)和交流阻抗法(ElS)分别对复合电解质的形貌、结晶度和电化学性能进行表征.SEM结果表明SiO2溶胶原位制备的P(VDF-HFP)/SiO2复合膜的膜层表面微孔丰富且相互连通,XRD表明其结晶度较纯P(VDF-HFP)膜减小;LSV和EIS结果表明复合膜的电化学稳定窗口为5.0V,室温离子电导率高达3.134×10-3 S/cm,且其界面阻抗较直接添加SiO2粉末制备的复合膜的920Ω下降至850Ω.
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文献信息
篇名 原位制备P(VDF-HFP)/SiO2复合聚合物电解质及其性能研究
来源期刊 电源技术 学科 工学
关键词 原位 聚合物电解质 SiO2 P(VDF-HFP)
年,卷(期) 2017,(2) 所属期刊栏目 研究与设计
研究方向 页码范围 189-191,281
页数 4页 分类号 TM912.9
字数 3551字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学敏 长江大学化学与环境工程学院 27 119 7.0 10.0
2 缪畅 长江大学化学与环境工程学院 12 11 3.0 3.0
3 肖围 长江大学化学与环境工程学院 16 10 2.0 2.0
4 王脂胭 长江大学化学与环境工程学院 3 1 1.0 1.0
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