快连接式电磁继电器结构可靠性的研究与改进

• 作者: 熊克勇
• 来源期刊: 电子产品世界
• 关键词: 快连接式 电磁继电器 释放电压 外力 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 设计应用
• 页码范围: 40-42,45
• 页数: 4页
• 字数: 3506字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2017.5.012

摘要

本文结合家电产品应用的快连接式电磁继电器,采用解剖、模拟、对比等分析方法,对释放电压偏低的电磁继电器进行失效原因分析.结果表明,快连接插片受到外力冲击变形,使快连接插片与基座铆接点固定柱受到破坏,继电器静簧片向动簧片反方向移动,GAP(触点间隙)变大,FOLLOW(超行程)变小,导致释放电压低.通过对快连接式继电器的研究,提出两种改善方案:1)在快连接式插片根部增加挡块;2)在快连接片的静簧片上增加挡钉,可提高快连接式继电器的结构强度,提高其使用可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊克勇		12	6	1.0	2.0