高速串行误码测试仪设计与实现

• 作者: 刘宇 逄锦昊
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 高速串行传输 误码率 现场可编程门阵列 误码测试 伪随机二进制序列
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 页码范围: 19-21,25
• 页数: 4页
• 分类号: TM932
• 字数: 2800字
• 语种: 中文

摘要

针对高速串行传输系统测试误码率的需求,设计实现了一种串行误码测试仪.采用了FPGA并行序列图形发生,高速串并/并串转换电路和模块化程序的设计思路,具有测试速率快、速率连续可变和测试图形种类多的特点.测试结果表明:该系统测试速率达100Mb/s~12.5Gb/s,支持PRBS和可编程数据等测试图形,具有良好的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宇	中国电子科技集团公司第四十一研究所	24	87	4.0	9.0
2	逄锦昊	中国电子科技集团公司第四十一研究所	1	3	1.0	1.0